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J-GLOBAL ID：201602012658976546   整理番号：71A0273458

高解像力顕微鏡試験の最近の発達

Recent developments in high-resolution microscopy.
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著者 (2件)：
HONEYCOMBE R W K

HONEYCOMBE R W K について

, 
RALPH B

RALPH B について


資料名：
Proc Commonwealth Mining Met Congr 9th London Vol.4 Phys Fabric Met  (Commonwealth Mining and Metallurgical Congress 9th 690503 Vol.4)

Proc Commonwealth Mining Met Congr 9th London Vol.4 Phys Fabric Met について


ページ： 501-512  発行年： 1970年 
JST資料番号： K19690129  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 解説  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)
抄録/ポイント：
抄録/ポイント
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合金の研究に関連し電子顕微鏡試験について,とくに金属内の転位の配置と合金の析出による強化について記述する。きわめて高い電圧(約1000kV)を使用すると比較的厚いはくも透過でき,表面現象を伴わないはく内部の粒子の試験も可能になると思われる。イオン電子顕微鏡を使用すると金属の原子を解像力2~3Aで解像することができる。この方法は非耐火性の金属と合金を試験することができるようになったので鉄ベース合金など工学的分野で興味をひいている;写図8参7
シソーラス用語：
シソーラス用語/準シソーラス用語
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電子顕微鏡観察

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準シソーラス用語：
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顕微鏡試験

顕微鏡試験 について

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電子顕微鏡法

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タイトルに関連する用語 (2件)：
タイトルに関連する用語
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高解像力

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発達

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