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J-GLOBAL ID：201602012830501474   整理番号：71A0054775

被照射物質のエレクトロンプローブミクロ分析

Electron-probe microanalysis of irradiated materials.

著者 (3件)： BRAMMAN J I ,  SHARPE R M ,  YATES G
資料名： Proc Commonwealth Mining Met Congr 9th London Vol.4 Phys Fabric Met  (Commonwealth Mining and Metallurgical Congress 9th 690503 Vol.4)
ページ： 387-401  発行年： 1970年 
JST資料番号： K19690129  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 解説  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： エレクトロンプローブミクロ分析装置は,や金学的問題を解決する価値の高い新科学装置で,適当なエネルギーの電子衝撃を行ない,発生する特性X線スペクトルから微細な試料の分析をすることができる。この装置は,照射されたセラミック燃料内の第2相の認識に,あまり感度をおとすことなく試験することを可能にする。この装置を使用して分裂生成物の挙動を知ることができるようになった;写図9参15

シソーラス用語： 核燃料 ,  核分裂生成物 ,  電子照射
準シソーラス用語： エレクトロンプローブミクロ分析 ,  特性X線スペクトル

タイトルに関連する用語 (2件)： 被照射物 ,  分析