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J-GLOBAL ID:201602012904576200   整理番号:71A0261412

セル構造をした論理回路の故障診断

著者 (2件):
資料名:
巻: 54-C  号:ページ: 435-436  発行年: 1971年 
JST資料番号: S0623A  ISSN: 0373-6113  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 短報  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
抄録/ポイント:
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診断容易なセルとして冗長な入力を付加した図を与え.その故障診断について考察した。Ferrariらは.セノンの二次元反復構造で,任意のtransfer logic networkを実現しているが.このセルは故障診断に適しているとは言えない。セルの故障診断が容易であるための性質として,セルのD-cubeにより故障が垂直出力と水平出力に同時に伝搬することなどを示し。故障診断法を解説した;写図2表2参2
シソーラス用語:
シソーラス用語/準シソーラス用語
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準シソーラス用語:
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