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J-GLOBAL ID：201602012995575936   整理番号：74A0255922

複雑な論理回路の機能試験

Functional testing of complex logic circuits.

著者 (1件)： SHUKLA V M
資料名： Int Microelectron Symp  (International Hybrid Microelectronics Symposium)
巻： 1971  ページ： 9.5.1-9.5.9  発行年： 1971年 
JST資料番号： A0946B  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 解説  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

シソーラス用語： 計算機利用 ,  故障検出 ,  試験 ,  論理回路

タイトルに関連する用語 (2件)： 論理回路 ,  試験