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J-GLOBAL ID：201602013056955021   整理番号：62A0127406

四探針法による異方性導体の比抵抗測定

Note on four-point resistivity measurements on anisotropic conductors.
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著者 (1件)：
WASSCHER J D

WASSCHER J D について


資料名：
Philips Res Rep  (Philips Research Reports)

Philips Res Rep について


巻： 16  号： 4  ページ： 301-306  発行年： 1961年 
JST資料番号： D0313A  ISSN： 0031-7918  CODEN： PRREA   資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD) 
抄録/ポイント：
抄録/ポイント
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四探針法による比抵抗の測定は普通は等方性半導体について述べられており.異方性の場合については四点を同一直線上に配列した応用例が述べられているだけであるVan der Pauwの座標変換法を利用して.針間距離に比べて試料の厚さが厚い場合と薄い場合に.異方体の四探針法による比抵抗測定の問題を考えた.探針髪方形配列にする方が直線配列よりもはるかに感度が良いことを示した.また一つの主軸に垂直な面内の測定だけで.比抵抗テンソルの三成分を求められることを示した;図3参7
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探針

探針 について

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比抵抗

比抵抗 について


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