抄録/ポイント:
抄録/ポイント
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サンプル値制御系でサンプラおよびホールド機構などの非線形要素が系の低周波特性にどのようなひずみを与えるかを計算した。ますサンプル値系の相関とスペクトル密度関数と零次ホールドの出力のスペクトル密度を示しそれによってサンプリングプロセスの低周波分の計算式や増幅ひずみによる低周波分のひずみの式などを算出。さらに,二次の位置制御のサンプル値制御系について実例を示し,理綸的な考察と実験結果とがかなりよく一致していることをのべた;図4参11