抄録/ポイント:
抄録/ポイント
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高純度ロペックス(低酸素無転位)Siの析出をX線回折トポグラフ及び透過電子顕微鏡によって調べた。その結果,もし試量を700-10(1)o°CでアニールするとアズグロンSi結晶中の不純物濃度により第二相の析出が生ずる事がわかった。析出相は.αFe,Siであると思われる;写図18表1参36