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J-GLOBAL ID：201602013427532234 整理番号：66A0187662
誘電体特性測定のための複素関数C
exp
(-jζ)=〔tanh(T
exp
jτ)〕のグラフ
hart3 of complex function C exp-,thnh T exp uirT exp jtj for die2.ctric measurements.
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著者 (2件)：
KOIZUMI
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IKADA E
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資料名：
Bull Inst Chem Res Kyoto (Bulletin of the Institute for Chemical Research, Kyoto University)
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巻：
43
号：
45
ページ：
392-406
発行年：
1965年
JST資料番号：
G0451A
ISSN：
0023-6071
CODEN：
BICRA
資料種別：
逐次刊行物 (A)
記事区分：
データシートなど
発行国：
日本 (JPN)
抄録/ポイント：
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電体特性を測定するための式としてRobertsとVon Hippel’sよって与えられた複素関数C
exp
(-jζ)=〔tanh(T
exp
jτ)]グラフに表わしたもので,グラフに表わしたTおよびτのレンジは0.5~3.0および58°~90°である。従ってこのグラフは誘電材科の誘電損失の測定用に実用的であって,特に重要な点はτのレンジ,消失系数の2.0~0.2に相対する58°~85°部分である;図11参3
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