文献
J-GLOBAL ID：201602013537248850   整理番号：60A0010489

二次イオン放出の使用による試料の局部分析の可能性

Sur les possibilites d’analyse locale d’un echantillon par utilisation de son emission ionique secondaire.
  • 出版者サイト 複写サービスで全文入手
  • 高度な検索・分析はJDreamⅢで
著者 (3件)：
CASTAING R

CASTAING R について

, 
JOUFFREY B

JOUFFREY B について

, 
SLODZIAN G

SLODZIAN G について


資料名：
C R Hebd Seances Acad Sci  (Comptes Rendus Hebdomadaires des Seances de l'Academie des Sciences)

C R Hebd Seances Acad Sci について


巻： 251  号： 8  ページ： 1010-1011  発行年： 1960年 
JST資料番号： B0303A  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： フランス (FRA) 
抄録/ポイント：
抄録/ポイント
文献の概要を数百字程度の日本語でまとめたものです。
部分表示の続きは、JDreamⅢ(有料)でご覧頂けます。
J-GLOBALでは書誌(タイトル、著者名等)登載から半年以上経過後に表示されますが、医療系文献の場合はMyJ-GLOBALでのログインが必要です。
一次イオン線束を試料に照射したとき,照射した位置に特徴的な二次イオンが放出されることを利用して,試料を分析する方法について考察
タイトルに関連する用語 (4件)：
タイトルに関連する用語
J-GLOBALで独自に切り出した文献タイトルの用語をもとにしたキーワードです
二次イオン放出

二次イオン放出 について

, 
試料

試料 について

, 
分析

分析 について

, 
可能性

可能性 について


前のページに戻る

TOP

BOTTOM