抄録/ポイント:
抄録/ポイント
文献の概要を数百字程度の日本語でまとめたものです。
部分表示の続きは、JDreamⅢ(有料)でご覧頂けます。
J-GLOBALでは書誌(タイトル、著者名等)登載から半年以上経過後に表示されますが、医療系文献の場合はMyJ-GLOBALでのログインが必要です。
被測定2端子素子ほ一端を接地することとし,おもにQの富いコノ,の直列インダクタンスと抵抗を測ることを考える。プリ・ジジ測昏・1おける誤差の主因である測定回路自体の残留イミツタンスを賠;るπめ・7リッシに寺比構底を奉本とした。すなわち抵抗辺ほ100Ω触10(1)Ωとし・c辺は10・100・1000pFのシルバードマイカ離容量と11pFの可変容量・およびコンダクタンスとして0.1,1,10,100μδの固定分と0・13μδの可変分が用意してある。10既iこおける確度は・インダクタンスが0・5%・0・5-3μHにおけるQも5%らいになる;写図3参2