抄録/ポイント:
抄録/ポイント
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ランダムな実験誤差の減少および系統的誤差の評価のためには良好な実験技術およびデータの系統的な取扱いを必要とする。Straumanis-Ievin§,vanArkelおよびBradley-Jay法やGunier法,ディフラクトメータ配置における精度の幾何学的および統計的な考察をおこない,ブラッグ角,格子面間隔,格予定数の標準偏差が写真上の位置測定の偏差から容易に求め得ることを示した;写図4表1参互2