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J-GLOBAL ID：201602013906646988   整理番号：72A0008580

最適化させた反射比の方法による薄膜の光学定数

Optical constants of thin films by an optimized reflection ratio method.

著者 (2件)： MILLER R F ,  TAYLOR A J
資料名： J Phys D  (British Journal of Applied Physics (Journal of Physics. D))
巻： 4  号： 9  ページ： 1419-1425  発行年： 1971年 
JST資料番号： B0092B  ISSN： 0022-3727  CODEN： JPAPBE  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 誘電体基板に支えられた薄い吸収膜の光学定数nとkを決定する新しい方法を考案した。二つの反射係数の比R,/R.を二つの入射角で測定し,膜の厚さdを独立に求める。実験測定の入射の最適角度をLO≦n≦0,25と1.0≦k≦4.0と0.01≦d/λ≦0.25の領域中の多くの光学的膜厚d/λで測定。この方法ではこれらの最適角で用いるとd/λ≧0.05に対してnとkが±0.05の精度で求まる;写図3表3参7

シソーラス用語： 屈折率 ,  光学定数 ,  反射率
準シソーラス用語： 薄編

タイトルに関連する用語 (3件)： 最適化 ,  薄膜 ,  光学定数