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J-GLOBAL ID：201602013914357154   整理番号：70A0261892

高信頼性ICの不良率

High-rel IC’s experience excessive failure rate.

著者 (1件)： HENIFORD B
資料名： EDN  (EDN)
巻： 15  号： 6  ページ： 93-94  発行年： 1970年 
JST資料番号： E0341B  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 高信頼性シリーズのIC54L/74L低電力TTLは,同じシステムに用いた場合,普通のIC54/74より高い不良率を示す。これは,このICの入力回路の浮遊インダクタンスとキャパシタンスのために高いdi/dtの負のオーバーシュートを起すためである。この解決法は,54L/74Lの入力のリード線を短かくし,入力にクランプダイオードをそう入することである

シソーラス用語： 集積回路 ,  信頼性
準シソーラス用語： IC ,  TTL ,  信頼性(IC)

タイトルに関連する用語 (3件)： 高信頼性 ,  IC ,  不良率