抄録/ポイント:
抄録/ポイント
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3温度法を使用した真空蒸着により,(111),(110)および(100)半絶縁性GaAs基板結晶上にエピタクシャル・InAs膜を成長させた。膜の構造は,Laue反射法および伝導度の測定より調べた。常温においてHall移動度23,000cm
2/V-secおよびキャリヤ濃度2×10
15cm
-3が得られた。膜厚の移動度に対する影響を調べた結果,膜厚が数μ以下になると,移動度は急激に減少することが判明した;写図7参13