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J-GLOBAL ID：201602014213603742   整理番号：70A0250277

イオンにより集束された電子ビームのRFによるぼけ

RF defocusing of ion-focused electron beams.

著者 (2件)： SASIELA R ,  PAIK S F
資料名： IEEE Trans Electron Devic  (IRE Transactions on Electron Devices)
巻： 17  号： 2  ページ： 168-169  発行年： 1970年 
JST資料番号： C0222A  ISSN： 0018-9383  CODEN： IETDAI  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 最近再考慮されつつあるイオン集束法をマイクロ波直進ビーム装置に応用する場合に問題になると考えられる,外部RF電力による集束のぼけの程度を推定した。ぼけの第一の原因は集群された電子による空間電荷の作用であり,これが大電力管の応用の限界をきめていることが明らかになった;参7

準シソーラス用語： イオン集束

タイトルに関連する用語 (5件)： イオン ,  集束 ,  電子ビーム ,  RF ,  ぼけ