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J-GLOBAL ID：201602014274486544   整理番号：71A0000290

半導体のホール効果を測定するための装置

Приспособление для измерения коаффициента Холла полупроводников.

著者 (3件)： МАРАСАНОВ В А ,  КУЗИНА Н Н ,  ПАШИНЦЕВ Ю И
資料名： Zavod Lab  (Zavodskaya Laboratoriya)
巻： 36  号： 8  ページ： 1012  発行年： 1970年 
JST資料番号： R0131A  ISSN： 0321-4265  CODEN： ZVDLA   資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： 旧ソビエト連邦 (SUN)  言語： ロシア語 (RU)

抄録/ポイント： 待別の接触を用意しない,鋳塊からきり出した板状試料でLangeの四端子法をつかってホール係数を手早く測定する簡単な装置をつくった。Siのホール係数,移動度および担体濃度を測定し,他の方法による結果と比較した;参3

シソーラス用語： Hall効果 ,  キャリア移動度
準シソーラス用語： Hall効果測定 ,  キャリア濃度 ,  シリコン ,  ホール係数の ,  測定装置 ,  測定装置(ホール係数の)

タイトルに関連する用語 (1件)： ホール効果