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J-GLOBAL ID：201602014375454791   整理番号：72A0019201

X線プロフィール解析におけるKα₁フーリエ係数の直接評価

Direct evaluation of Kα₁ Fourier coefficients in X-ray profile analysis.

著者 (2件)： KIDRON A ,  De ANGE LIS R J
資料名： Acta Crystallogr Sect A  (Acta Crystallographica. Section A. Foundations of Crystallography)
巻： 27  号： 6  ページ： 596-599  発行年： 1971年 
JST資料番号： A0315B  ISSN： 0108-7673  CODEN： ACACEQ  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： X線回折プロフィールを分析する際,最小自乗法を用いると,全体のKo2重線が入った強度からKα,成分だけのフーリエ係数を直接に計算できることを示した。しかもこのフーリエ係数はプロフィールの任意の点,例えば重心,Kα,のピーク等の回りで計算できる。ここで用いた最小自乗法はフーリエ変換法全体に対して重要である;表2参10

シソーラス用語： Fourier変換 ,  X線回折
準シソーラス用語： 回折線

タイトルに関連する用語 (5件)： X線 ,  プロフィール ,  解析 ,  係数 ,  評価