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J-GLOBAL ID：201602014615720443   整理番号：73A0020637

超高圧電子顕微鏡の材料科学へのいくつかの応用

Some applications of an ultra-high voltage electron microscope on materials science.

著者 (5件)： FUJITA H ,  TABATA T ,  YOSHIDA K ,  SUMIDA N ,  KAT AGIRI S
資料名： Jpn J Appl Phys  (Japanese Journal of Applied Physics)
巻： 11  号： 10  ページ： 1522-1536  発行年： 1972年 
JST資料番号： G0520A  ISSN： 0021-4922  CODEN： JJAPA   資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 3MV級の電子顕微鏡を用いる際の基本的問題を,2MVで銅,アルミニウム,18-8ステンレス,金などの物質について調べた。観測できる最大の厚は0,1MVに比べ12~13倍になる。電子の異常透過は111反射の対称位置でAlでさえも起る。電子照射損傷による二次欠陥の全量はBragg条件からのはずれにもよる。A1の液体構造と酸化過程を決めるためにカプセルがどれくらい有効か調べた;写図16参30

シソーラス用語： 格子欠陥 ,  電子顕微鏡観察
準シソーラス用語： 異常透過 ,  電子顕微鏡法

引用文献 (20件)：

• 1) H. Hashimoto: J. appl. Phys. 35 (1964) 277.
• 2) G. Dupouy and F. Perrier: J. Microscopie 3 (1964) 233; A. Koreeda, H. Okamoto, K. Shimizu and T. Katsuta: Rev. sci. Instrum 42 (1971) 1676.
• 3) K. Kobayashi, H. Hashimoto, E. Suito, S. Shimadzu and M. Iwanaga: Japan. J. appl. Phys. 2 (1963) 47; K. Kobayashi and M. Ohara: Proc. 6th Intern. Cong. on Electron Microscopy, Kyoto, 1 (1966) p. 579.
• 7) C. J. Humphreys, L. E. Thomas, J. S. Lally and R. M. Fisher: Phil. Mag. 23 (1971) 87.
• 8) H. Fujita: J. Phys. Soc. Japan 23 (1967) 1349; H. Fujita and H. Yamada: Proc. Intern. Conf. on the Strength of Metals and Alloys, Tokyo, (1968) p. 943.

タイトルに関連する用語 (3件)： 高圧電子顕微鏡 ,  材料科学 ,  応用