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J-GLOBAL ID：201602014706304787   整理番号：65A0229244

電子計算機を使用した回路信頼度の解析

Computer aided circuit reliability analysis.

著者 (3件)： ALLEN B O ,  BLAZEK D R ,  PURDUE C H
資料名： Proc Natl Symp Reliab Qua  (Proceedings. National Symposium on Reliability & Quality Control)
巻： 1965  号： 11  ページ： 21-33  発行年： 1965年 
JST資料番号： A0278B  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 解説  発行国： アメリカ合衆国 (USA) 

抄録/ポイント： ダイオードとトランジスタから成るゲート回路を対象とし,IBM社の7094を使用した解析事例を示す。Los Alamos Scientific Laboratory(LASL)で開発した汎用回路解析プログラムNET-1の適用効果を詳細に図示説明している。このプログラムの特徴は,各時点における回路特性値をns単位で曲線図示する点にある。その曲線を実測曲線と比較対照し,良好な一致を立証する。入力パラメータの変動には重点を置いていない。プログラム上の諸種制限事項を具体的に表示解説する。今後,パラメータ変動を考慮した最悪値設計法として,NET-IIプログラムの開発を行う; 図19 参5

タイトルに関連する用語 (3件)： 電子計算機 ,  回路信頼度 ,  解析