抄録/ポイント：
抄録/ポイント
文献の概要を数百字程度の日本語でまとめたものです。
部分表示の続きは、JDreamⅢ(有料)でご覧頂けます。
J-GLOBALでは書誌(タイトル、著者名等)登載から半年以上経過後に表示されますが、医療系文献の場合はMyJ-GLOBALでのログインが必要です。
Ni-Crめっき系の腐食機構を明らかにし,耐食性の評価方法を検討するため,Ni-Crめっき試料の開路電位ならびに定電位分極特性の測定を行なった。さらにニッケル上の腐食孔を顕微鏡で観察することによりニッケルめっきの腐食に及ぼすクロムめっき層の影響を調べた。Ni-Crめっきの腐食については,クロムめっきの欠陥の底部において下地のニッケルめっき層が腐食する速度を電流密度として測定できる。Ni-Crめっきにおけるニッケルの腐食は,めっき中にいおうが存在するとき,あるいは腐食溶液中に塩素イオンが存在するとき加速される;写図15 表1
