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J-GLOBAL ID：201602015118709041   整理番号：71A0123432

XeF₂,XeF₄,およびXeF₆の光イオン化質量分析的研究

Photoionization mass spectrometric study of XeF₂,XeF₄,and XeF₆

著者 (5件)： BERKOWITZ J ,  CHUPKA W A ,  GUYON P M ,  HOLLOWAY J H ,  SPOHR R
資料名： J Phys Chem  (Journal of Physical Chemistry)
巻： 75  号： 10  ページ： 1461-1471  発行年： 1971年 
JST資料番号： C0334A  ISSN： 0022-3654  CODEN： JPCHAX  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 過程XeF₂+hν→Xe+F^-+Fを.光イオン化質量分析法で調べその.しきい値から.〓(XeF₂)=-28.0±0.5kcal/mo1の値を得た。また.XeF₄からXeF+2およびXeF₅からXeF〓に対するしきい値から.〓(XeF₄)=-57.6±2kcal/holおよび〓(XeFs)=-(90±1)kca1/molを得た。第一イオン化ポテンシャルの値は,Xe₂.12.35±0.01:XeF₄,12.65=と0.1;XeF₆.12.19±0.02(eV)である。XeF⁺₄とXeF⁺₅の基底状態が,非対称な性格を有する事実を示す証拠を見出した。さらに.XeF⁺,XeF+⁺₃,XeF⁺₅イオンは.偶数個のふっ素を含むイオンよりも.ふっ素原子の解離に対して,明らかに安定である;写図9表2参42

シソーラス用語： イオン化ポテンシャル ,  ふっ化キセノン ,  質量分析
準シソーラス用語： XeF₂ ,  イオン化ポテンシャル(ふっ化キセノン) ,  質量分析(XeF₂)

タイトルに関連する用語 (2件)： 光イオン化質量分析 ,  研究