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J-GLOBAL ID：201602015384561122   整理番号：74A0006465

鏡面物質用高精度反射計の評価

Evaluation of a high accuracy reflectometer for specular materials.

著者 (2件)： HERNICZ R S ,  DeWITT D P
資料名： Appl Opt  (Applied Optics)
巻： 12  号： 10  ページ： 2454-2460  発行年： 1973年 
JST資料番号： B0026B  ISSN： 0003-6935  CODEN： APOPAI  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 0.3~15,0μm波長域で,鏡面物質の分光反射率を高精度で測定する方法を述べる。反射計の性能を評価し,蒸着アルミニウム薄膜についての結果を,この反射計設計の基礎としたBennett-Koehler装置によるものと比較した。レーザ鏡のような高反射率については4分の1の精度が得られる;写図4表3参20

シソーラス用語： レーザ ,  反射鏡 ,  反射率計

タイトルに関連する用語 (4件)： 鏡面 ,  物質 ,  反射計 ,  評価