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J-GLOBAL ID：201602015602221371   整理番号：74A0250453

複雑パターンの欠陥認識の一手法

A process for detecting defects in complicated patterns.

著者 (4件)： EJIRI M ,  UNO T ,  MESE M ,  IKEDA S
資料名： Comput Graph Image Proces  (Computer Graphics and Image Processing)
巻： 2  号： 3/4  ページ： 326-339  発行年： 1973年 
JST資料番号： D0172C  ISSN： 0146-664X  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： プリント配線パターンのような複雑なパターン中の傷を認識する方法を述べている。この方法では二次元非線形論理フィルタリングを用いている。最初に全画面中から一部分をとり出し,サンプリングにもとずぐ微小な不規則部を消去する。真の欠陥部を発見するためにパターン整合を用いているが,標準パターンはあらかじめ用意しておくのではなく,疑似標準パターンを入力パターンから創成することが特徴であり,このため位置ぎめの問題がなく,標準パターンメモリーが不要である。本手法の効果と,試作装置の構成について述べている;写図14参2

シソーラス用語： パターン認識 ,  欠陥検査 ,  図形処理
準シソーラス用語： プリント回路

タイトルに関連する用語 (2件)： 欠陥 ,  手法