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J-GLOBAL ID：201602015681992310   整理番号：58A0040392

けい素中の光学的散乱測定に関する鋭感法

A Sensitive Method for Measuring Optical Scattering in Silicon.
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著者 (3件)：
SCHWUTTKE G H

SCHWUTTKE G H について

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WEINREICH O A

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DECK P H

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資料名：
J Electrochem Soc  (Journal of the Electrochemical Society)

J Electrochem Soc について


巻： 105  号： 12  ページ： 706-709  発行年： 1958年 
JST資料番号： C0285A  ISSN： 0013-4651  CODEN： JESOAN  資料種別： 逐次刊行物 (A)
発行国： アメリカ合衆国 (USA) 
抄録/ポイント：
抄録/ポイント
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けい素ならびに金属間化合物中の光学的散乱を観察する装置であり,不完全結晶を検討するのに他の光学的諸方法と組合せ,補足的道具となる.実例として加熱処理,るつぼで生成したけい素の散乱模様を求めた
分類 (1件)：
分類
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(CB060106)
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けい素

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光学

光学 について

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散乱測定

散乱測定 について


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