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J-GLOBAL ID：201602015918053225   整理番号：58A0057643

周波数安定回路をもつレードームの厚み計(安定化された周波数のクライストロンを使ってレードームの厚さと誘電率を決定する装置)

Radome Thickness Gage is Frequency Stabilized.

著者 (3件)： WEBBER A H Jr ,  PRESTON A C ,  CROOKS R G
資料名： Electronics  (Electronics)
巻： 31  号： 25  ページ： 70-72  発行年： 1958年 
JST資料番号： B0455B  ISSN： 0013-5070  CODEN： ELECA  資料種別： 逐次刊行物 (A)
発行国： アメリカ合衆国 (USA) 

分類 (1件)： (EE010102)

タイトルに関連する用語 (6件)： 周波数安定 ,  レードーム ,  厚み計 ,  安定化 ,  クライストロン ,  誘電率