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J-GLOBAL ID：201602016105929561   整理番号：64A0095043

計算尺法による電子線回折はん点の指数づけ

Slide rule method for indexing electron diffraction patterns

著者 (2件)： ROSER W R ,  THOMAS G
資料名： Rev Sci Instrum  (Review of Scientific Instruments)
巻： 35  号： 5  ページ： 615-615  発行年： 1964年 
JST資料番号： D0517A  ISSN： 0034-6748  CODEN： RSINAK  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA) 

抄録/ポイント： 立方晶系に属する結晶薄膜の電子線回折はん点の指数づけに計算尺を用いる方法を考案した。この方法の特長は結晶格子の面間隔,カメラ半径の値を用いず,乾板上のはん点の位置だけから指数づけをすること。また膜の方位は一組の白黒の菊池線の距離の比から,はん点の指数づけと同じ方法で決定することができる;写2参2

タイトルに関連する用語 (4件)： 計算尺 ,  電子線回折 ,  はん点 ,  指数