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J-GLOBAL ID：201602016387793551   整理番号：71A0046046

固体単注入ダイオードのトラッピング雑音

Trapping noise in solid-state single injection diodes.

著者 (1件)： ZIJLSTRA R J J
資料名： Solid-State Electron  (Solid-State Electronics)
巻： 14  号： 5  ページ： 365-366  発行年： 1971年 
JST資料番号： H0225A  ISSN： 0038-1101  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： トラップが均一に分布し,禁制帯の中に一つのエネルギー準位をもった絶縁体を考え,定常状態のまわりのトラッピングのゆらぎを示す式として,トラップされた電子の密度に対する直線速度方程式を導き,トラッピング雑音を一次元解析した。この方程式と電流方程式,P。isson方程式から出発し,Fourier解析を用いて,交流開放回路重圧のゆらぎのスペクトル雑音密度を導いた。また,トラップが浅い場合,空間電荷制限の場合を検討した。さらに,交流短絡回路電流のゆらぎに対するスペクトル雑音密度を導き,実験と,もあうことを示した;巻4

シソーラス用語： ダイオード ,  雑音
準シソーラス用語： 捕獲中心

タイトルに関連する用語 (5件)： 固体 ,  注入 ,  ダイオード ,  トラッピング ,  雑音