抄録/ポイント:
抄録/ポイント
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半導体の単結晶薄膜を製作する製造技術について述べた。この方法の利点は取りはずすことなく連続的にしかも容易に厚さを測定できることである。5μm厚さのゲルマニウム膜について検討した。他の材質についてもこの方法は使用できる;写図1参4