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J-GLOBAL ID：201602016424154467 整理番号：58A0060528
熱的ひずみによる格子転位の発生
The generation of dislocations by thermal stresses.
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資料名：
Philips Tech Rev (Philips Technical Review)
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巻：
19
号：
12
ページ：
357-364
発行年：
1958年
JST資料番号：
D0315A
ISSN：
0031-7926
CODEN：
PTREA
資料種別：
逐次刊行物 (A)
発行国：
オランダ (NLD)
抄録/ポイント：
抄録/ポイント
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引上げ法で作られるシリコンやゲルマニウムの単結晶に相当多くの転位が生じてるこれは出来たての熱い結晶が冷えるとき内部に起きる温度勾配による熱的ひずみを生じ,このひずみは熱い半導体の塑性の流れにによって緩和されるので転位が生じる訳であるいろいろの結晶軸の方向に対してこの考えを適用,解析すると実験結果と一致することを記述している
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