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J-GLOBAL ID:201602016620591166   整理番号:65A0165976

トランジスタの第2次破壊現象の機構

oecond breakdown solution sought
資料名:
ページ: 242628  発行年: 1965年 
JST資料番号: Z0000A  資料種別: 不明
記事区分: 不明  発行国: その他 (ZZZ) 
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第2次破壊現象はコレクタ電流が増え,VCEが最終的に低レベルになりICが外部条件だけで決まる点で起る。その状態から充分早く元の状態に戻されると,正常状態に戻る。Icが大きく流れた状態のままではコレクターエミッタ間が短絡する。2次破壊が起るには数msecのおくれ時間があり,この遅れは2次破壊を起こすには,ある量のエネルギーが必要な事を示している。この量が分れば破壊を防ぐことが出来る。パラメータとして温度,VEBが重要である。また正逆のバイアスは別個に考えられる
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