抄録/ポイント:
抄録/ポイント
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X線回折で結晶構造を解析する際,精度を上げるには試料によるX線の吸収を補正する必要がある。簡易な方法としてある反射面に垂直な軸のまわりに結晶を回転させた場合の反射強度の変化から吸収の変化を求め,吸収補正をするFurnasの方法を拡張した;図9参18