抄録/ポイント:
抄録/ポイント
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室温で〔001〕方向に低線量(1(1)lo-10ほイオン/ぽ)したAg薄膜内の欠陥クラスタ構造を電子顕微鏡法で調べた。欠陥は全エネルギー域(5-50keV)で,空格子点型である。低エネルギー照射のとき,欠陥は動径方向ひずみ場に特有な回折コントラストを示す。高エネルギー域では,フランク・ループと積層欠陥四面体の混合が現われる。欠陥は変位カスケード域に発生する;写図4参13