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J-GLOBAL ID：201602017088701930 整理番号：67A0013630
蒸着された金属の上に非常に薄い誘電体膜における異常吸収のエリプソメータによる測定
Ellipsometer study of anomalous absorption in very thin dielectric films on evaporated metals.
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資料名：
J Opt Soc Am (Journal of the Optical Society of America)
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巻：
56
号：
10
ページ：
1320-1331
発行年：
1966年
JST資料番号：
C0327A
ISSN：
0030-3941
CODEN：
JOSAA
資料種別：
逐次刊行物 (A)
記事区分：
原著論文
発行国：
アメリカ合衆国 (USA)
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金およびクロム蒸着基板上のポリブタジエン膜の吸収の測定から,吸収が膜厚および波長に依存することを見出した。非常に薄い膜の吸収の波長依存性は膜-基板境界面における有効電場の効果を通しての基板の性質に依存することを定性的に示す;図16表3参16
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