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J-GLOBAL ID：201602017106149140   整理番号：73A0026996

透明誘電体表面でのレーザ誘起損傷しきい値へのクラック,細孔および吸収性介在物の役割

Role of cracks, pores, and absorbing inclusions on laser induced damage threshold at surfaces of transparent dielectrics.

著者 (1件)： BLOEMBERGEN N
資料名： Appl Opt  (Applied Optics)
巻： 12  号： 4  ページ： 661-664  発行年： 1973年 
JST資料番号： B0026B  ISSN： 0003-6935  CODEN： APOPAI  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 標記の役割として表面破壊強度をバルクよりも4,5倍だけ見かけ上低くすることを示した。とくにクラックの端に吸収性介在物があると,それが最低の表面損傷しきい値を決定するおもな機構となる;写図1参12

シソーラス用語： 絶縁破壊 ,  誘電体
準シソーラス用語： ひび割れ ,  レーザ損傷 ,  介在物 ,  表面損傷

タイトルに関連する用語 (7件)： 誘電体 ,  レーザ誘起損傷 ,  しきい値 ,  クラック ,  細孔 ,  介在物 ,  役割