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J-GLOBAL ID：201602017139063470   整理番号：59A0008481

電子顕微鏡による磁区の観測〔寄書〕

Magnetic Domain Observations by Electron Microscopy.

著者 (3件)： HALE M E ,  FULLER H W ,  RUBINSTEIN H
資料名： J Appl Phys  (Journal of Applied Physics)
巻： 30  号： 5  ページ： 789-791  発行年： 1959年 
JST資料番号： C0266A  ISSN： 0021-8979  CODEN： JAPIAU  資料種別： 逐次刊行物 (A)
発行国： アメリカ合衆国 (USA) 

抄録/ポイント： 透過法で薄膜の磁区の観察に適す.倍事は500~400.磁壁の直接の像は観測できないが,その行動は良く分る.偏光法や粉末技術との比較がなされている;写4参2

タイトルに関連する用語 (3件)： 電子顕微鏡 ,  磁区 ,  観測