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{{ $t("message.AD_EXPIRE_DATE") }}2021年04月
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文献
J-GLOBAL ID:201602017213943631   整理番号:62A0006788

解像力を悪くする収差な修正するための改良法・複雑X線スペクトル

Optimized method for correcting smearing aberrations: Complex X-ray spectra.
著者 (1件):
資料名:
巻: 33  号:ページ: 700-707  発行年: 1962年
JST資料番号: C0266A  ISSN: 0021-8979  CODEN: JAPIAU  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA) 
抄録/ポイント:
抄録/ポイント
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有限な分解能と雑音を含む観測スペクトルから真のスペクトルを得る問題を考えた,最新型の高分解能分光計を使って得た複雑なX線スペクトルに対し,この問題の実際的な改良した解を求めた。解は通常のたたみこみ積分のフーリエ変換解で,高速デジタル計算機で数値を求めた,雑音の項はウイナーの平滑理論の変形したもので取り扱った,実例をKClの中のClのKX線発輝,吸収スペクトルで示した,ここに示した方法は他のものについてもモデルと仮定塗適当に取るならは応用することができる;図2参27
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