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J-GLOBAL ID：201602017229850005   整理番号：71A0022167

レーザマイクロプロープ分析の新方法

A new method of laser microprobe analysis.
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著者 (2件)：
VELA M J

VELA M J について

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SULONEN M S

SULONEN M S について


資料名：
J Phys E  (Journal of Scientific Instruments (Journal of Physics E))

J Phys E について


巻： 3  号： 11  ページ： 901-903  発行年： 1970年 
JST資料番号： C0354B  ISSN： 0022-3735  CODEN： JPSIAE  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)
抄録/ポイント：
抄録/ポイント
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試料としてレーザ光が通過する程度に薄いものを用い,またレーザ,集光系.試料,分光器が一直線に並ぷ配置を採用することにより従来のレーザ微量分析装置の欠点を改良した。試料の厚みは目的に応じて5-100μの間に選ばれる。O.5Jルビーレーザからのレーザ光は光学系により試料上に1-3μφのスポットを結ぶ。試料背後には火花間隔を設けている。分光測定は水晶分光器とKodak103-0写真乾板を用いて行なった。測定例としてはC-Mn鋼中の非金属介在物(-25μφ)とかんらん岩の分析例を示し.高感度とはん用性を実証した;写図4参6
シソーラス用語：
シソーラス用語/準シソーラス用語
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分光分析

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