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J-GLOBAL ID：201602017494808070   整理番号：69A0261713

微細粒石英集合体における卓越配向性のX線分析

X-ray analysis of preferred orientation in fine-grained quartz aggregates.

著者 (3件)： BAKER D W ,  WENK H R ,  CHRISTIE J M
資料名： J Geol  (Journal of Geology)
巻： 77  号： 2  ページ： 144-172. 145(1)  発行年： 1969年 
JST資料番号： C0293A  ISSN： 0022-1376  CODEN： JGEOAZ  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 岩石中の石英粒子の卓越配向性を決定するには,従来の一般的方法として.ユニパーサルスージによる顕微鏡観察があるが,この方法では石英のC軸の卓越配向性しか知ることができず,α軸の卓越配向性は測定できない。いっぽう.X線写真によれば従来の光学的方法よりもはるかに精密に,かつ量的に卓越配向性を知ることができる。高温高圧下で人工的に変形・再結晶させたフリントについて.数μの石英粒子の卓越配向性をノレルコ・ポールフィギュア・ゴニオメータを用いて測定した例を詳述した;写図20表2参47

シソーラス用語： X線分析
準シソーラス用語： X線分析(石英粒子卓越方向) ,  ノレルコ・ポールフィギュア・ゴニオメータ ,  石英粒子卓越方向 ,  卓越配向性測定 ,  卓越配向性測定(微細粒石英集合体) ,  微細粒石英集合体

タイトルに関連する用語 (5件)： 微細粒 ,  石英 ,  集合体 ,  配向性 ,  X線分析