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J-GLOBAL ID：201602017752300833   整理番号：58A0051079

写真測量用乾板の平面性調整

Controle de la planeite des plaques photosensibles pour la photogrammetrie (lre partie).

著者 (2件)： MEEUS W A ,  THIRIAR L
資料名： Silic Ind  (Silicates Industriels)
巻： 23  号： 2  ページ： 75-80  発行年： 1958年 
JST資料番号： E0111A  ISSN： 0037-5225  CODEN： SIINA  資料種別： 逐次刊行物 (A)
発行国： ベルギー (BEL) 

分類 (1件)： (WC030308)

タイトルに関連する用語 (3件)： 写真測量 ,  乾板 ,  平面性