抄録/ポイント:
抄録/ポイント
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1重および2重の液相エピタクシー層のへき開面を調べるためにX線トポグラフ法を用いた。Teをド叶プしたn層およびZn並びに0をドープしたP層の間のP-n接合部のコントラストをミスフィッ漸位を使って解釈した。P-n接合部のミスフィットはn層中にTeが入っているために生じた格子の延びに帰せられる;計算によると普通の濃度のTeをドープすれば観察される転位密度を説明するには十分である。ミスフィットの考察によるとn層にSを用いると境界の欠陥の密度は著しく減少するはつである,この効果を実験的に示し拙写図4参16