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J-GLOBAL ID：201602017784404894   整理番号：68A0023517

電子衝撃イオン源から抽出したブラズマビームの診断

Diagnosis cf a plasma beam extracted from an electronbombardment ion source.

著者 (2件)： CLAYDEN W A ,  HURDLE C V
資料名： AGARD Conf Proc  (AGARD Conference Proceedings)
号： 8Vo12  ページ： 385-418  発行年： 1965年 
JST資料番号： B0911A  CODEN： AGCPA   資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 予稿  発行国： フランス (FRA) 

抄録/ポイント： 電離層中の高速運動物体と荷電粒子の相互作用を研究するため,プラズマ・ビーム装置を用いる。ビームの性質はラングミュア探針とイオン・トラップで調べる。代表的にはイオン速度2×10⁶cm・s^-1イオン密度10⁸cm^-3,イオンと電子温度10⁴°Kである。電離層内の衛星はビーム中の約1cmの物体によってシュミレートされる;写図15表1参13

タイトルに関連する用語 (3件)： 電子衝撃 ,  イオン源 ,  診断