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J-GLOBAL ID：201602018025181321 整理番号：72A0051758
X線顕微鏡による物質の特性化
Characterisation of materials by X-ray microscopy,I.Single-shot contact microradiography and some of its applications.
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著者 (1件)：
NELSON J B
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資料名：
Microscope (Microscope and Crystal Front)
Microscope について
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巻：
19
号：
Fourth
ページ：
347-375
発行年：
1971年
JST資料番号：
D0074A
ISSN：
0026-282X
CODEN：
MICRA
資料種別：
逐次刊行物 (A)
記事区分：
原著論文
発行国：
アメリカ合衆国 (USA)
言語：
英語 (EN)
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密着X線ラジオグラフィ迅速で微細構造の研究には便利な方法である。一般用のX線回析装置を用いた写真記録式ラジオグラフィは光学顕微鏡と同じくらいの解像力を有する。ただしこの装置で望まれる点は,X線管とシールドを中空のX線管支持柱の上に水平に据付けるようにしたい。同時に起るX線回折は同じX線管の他の円窓を用いることも可能である。K-吸収端を用いる示差分析はspecific elementのBr(Z=35)からAl(Z=13)を含めて格子マトリックス中の含有物または偏析の様子を検出することができる;写図22表2参14
シソーラス用語：
シソーラス用語/準シソーラス用語
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