抄録/ポイント:
抄録/ポイント
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標題の回折法はGiessenとGordon(1968)によって開発されたもので,試料に多色X線をあて,回折X線を一定角度に固定した半導体検出器で集め,マルチチャンネル分析器を用いてその波長を観測するという方法である。この回折法の有用性の検討を,銅管球(35kV,15ma),回折角20°2θの条件下で石英,方解石,カオリナイト,緑泥石および白雲母の粉末試料を用いて行なった。単独鉱物試料の同定には適しているが,複数の鉱物から成る試料では回折ピークの重なりが著しく同定が困難である。しかし,けい光分析が同時にできる利点はある;写図3表5参3