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J-GLOBAL ID：201602018046749166   整理番号：71A0062066

エレクトロン・フラクトグラフィー II 破面の電子顕微鏡写真による破壊の解析

著者 (1件)： 小寺沢良一
資料名： 機械の研究  (Science of Machine)
巻： 23  号： 2  ページ： 337-342  発行年： 1971年 
JST資料番号： F0147A  ISSN： 0368-5713  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 破面の電子顕微鏡写真を示す。低サイクル疲れ破面,高サイクル疲れ破面,変動荷重による疲れ破面について,き裂伝ぱの過程を説明する。疲れ破面に及ぼす析出粒子,粒界,加工硬化,ふん囲気の影響を,き裂の発生,進展,伝ぱ方向から解説する。高張力鋼の応力腐食および水素ぜい化などによる遅れ破壊について説明する。ステンレス鋼の遅れ破壊を示し,クリープ破壊の破面を紹介する;写図17参6

シソーラス用語： き裂 ,  電子顕微鏡 ,  疲れ破壊
準シソーラス用語： クリーブ強さ

タイトルに関連する用語 (6件)： エレクトロン ,  フラクトグラフィー ,  破面 ,  電子顕微鏡写真 ,  破壊 ,  解析