文献
J-GLOBAL ID：201602018140395173 整理番号：65A0152947
半導体部品用試験機器
Testers for semiconductor devices
出版者サイト
複写サービスで全文入手
高度な検索・分析はJDreamⅢで
著者 (1件)：
SEIDMAN A H
SEIDMAN A H について
「SEIDMAN A H」ですべてを検索
資料名：
Electron World (Chic) (Radio & T V News)
Electron World (Chic) について
JST資料番号 D0485A ですべてを検索
ISSN,ISBN,CODENですべてを検索
資料情報を見る
号：
3
ページ：
42-4472
発行年：
1965年
JST資料番号：
D0485A
CODEN：
ELCWA
資料種別：
逐次刊行物 (A)
記事区分：
解説
発行国：
アメリカ合衆国 (USA)
抄録/ポイント：
抄録/ポイント
文献の概要を数百字程度の日本語でまとめたものです。
部分表示の続きは、JDreamⅢ(有料)でご覧頂けます。
J-GLOBALでは書誌(タイトル、著者名等)登載から半年以上経過後に表示されますが、医療系文献の場合はMyJ-GLOBALでのログインが必要です。
直読のものは,hパラメータ,リータ電流,飽和電圧,α,βを測定する。ブリッジは,高周波帯域でのトランジスタのパラメータや容量を測定する。In回路テスタは,動作時におけるトランジスタやダイオードの特性を測定する。スイッチング時間試験機は,デレー,ライズ,ストレージタイムを測定する。カープトレーサは,降伏電圧やhパラメータを測定する。スペシャルテスタは,SCRやトンネルダイオードやサーミスタの特性を測定する。自動試験機は,半導体素子生産時の合否の判定に用いる;写1図9
タイトルに関連する用語 (1件)：
タイトルに関連する用語
J-GLOBALで独自に切り出した文献タイトルの用語をもとにしたキーワードです
試験機器
試験機器 について
「試験機器」ですべてを検索
この用語の用語情報を見る
前のページに戻る
TOP
BOTTOM
