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J-GLOBAL ID：201602018183017768   整理番号：71A0245162

薄膜素子の特性に及ぼす外部環境の影響の実験的・統計的研究

экспериметально-статистическое исслелование влияния внешней среды на характеристики тонкопленочного злемента.

著者 (1件)： ХАЙРУСОВ И
資料名： Zap Vses Mineral O-va  (Zapiski Vsesoyuznogo Mineralogicheskogo Obshchestva)
巻： 14  号： 3  ページ： 58-60  発行年： 1971年 
JST資料番号： R0130A  ISSN： 0044-1805  CODEN： ZVMOV   資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： 旧ソビエト連邦 (SUN)  言語： ロシア語 (RU)

シソーラス用語： 信頼性 ,  薄膜回路

タイトルに関連する用語 (5件)： 薄膜素子 ,  外部環境 ,  実験 ,  統計 ,  研究