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J-GLOBAL ID：201602018245453560   整理番号：72A0044305

非結晶構造を研究するための新しい技術;拡張されたX線吸収微細構造のフーリエ解析

New technique for investigating noncrystalline structures: Fourier analysis of the extended X-ray absorption fine structure.

著者 (3件)： SAYERS D E ,  STERN E A ,  LYTLE F W
資料名： Phys Rev Lett  (Physical Review Letters)
巻： 27  号： 18  ページ： 1204-1207  発行年： 1971年 
JST資料番号： H0070A  ISSN： 0031-9007  CODEN： PRLTAO  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 実験データを形式的に,吸収原子からの距離や原子数,配置殻の幅等の決定しうる構造パラメータを持つ動径構造関数に変えるために,フーリエ解析をX線吸収微細構造の点散乱理論に適用した。この技術を蒸着と結晶Geの比較により説明する。無定型Ge中の第1と第2近接は.測定の精度内で結晶距離にあることがわかった;写図2参16

シソーラス用語： Fourier解析 ,  X線吸収 ,  ゲルマニウム ,  無定形

タイトルに関連する用語 (5件)： 結晶構造 ,  研究 ,  拡張 ,  X線吸収微細構造 ,  フーリエ解析