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J-GLOBAL ID：201602018512873654   整理番号：73A0023260

SiF₄分子中のけい素とふっ素の超軟X線吸収スペクトル

Ultrasoft X-ray absorption spectra of silicon and fluorine in the SiF₄ molecule.

著者 (2件)： VINOGRADOV A S ,  ZIMKINA T M
資料名： Opt Spectrosc  (Optics and Spectroscopy)
巻： 31  号： 4  ページ： 288-291  発行年： 1971年 
JST資料番号： H0143A  ISSN： 0030-400X  CODEN： OPSUA3  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 旧ソビエト連邦 (SUN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： X線領域の光照射による光イオン化の研究の一環として.SiF₄の超軟X線吸収スペクトルを測定。siのL₁(2s).L_〓.m(2P)の吸収帯を,100~170eVに.またFのK(1s)吸収帯を680-750eVに観測。SF,の場合と同様,両者の吸収の数と相対位置一致することから,SiとFの内殻から,同一の分子状態への遷移と考える。この型の分子で準定常状態ができる原因について考察;写図1表3参16

シソーラス用語： X線スペクトル ,  ふっ化けい素 ,  光イオン化 ,  準安定状態
準シソーラス用語： SiF₄

タイトルに関連する用語 (4件)： けい素 ,  ふっ素 ,  軟X線 ,  吸収スペクトル