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J-GLOBAL ID：201602018528010222   整理番号：66A0275616

完全標本および一部標本に基づくWeibull分布における最ゆう推定

Maximum likelihood estimation in the weibull distibution based on complete and on censored samples.

著者 (1件)： COHEN A C
資料名： Technometrics  (Technometrics)
巻： 7  号： 4  ページ： 579-588  発行年： 1965年 
JST資料番号： E0359A  ISSN： 0040-1706  CODEN： TCMTA   資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： アメリカ合衆国 (USA) 

抄録/ポイント： 寿命試験でのモデルとして広く使用される2パラメータWeibull分布について,完全な標本や単純抜取標本および多回抜取標本などから分布のパラメータを推定するための最ゆう方程式を導く。序論,完全な標本,単純抜取標本,多回抜取標本,推定値の分散および共分散,形状パラメータに対する一次近似,説明用事例,の各章から成る。多標本タイプのそれぞれについて,漸近的な分散-共分散行列を示す。理論的検討経過を詳細に記述すると共に,具体的数値事例による計算経過を明示する;図1 表3 参15

タイトルに関連する用語 (3件)： 標本 ,  Weibull分布 ,  最ゆう推定