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J-GLOBAL ID：201602018731759468   整理番号：72A0029243

セビオライト(海ほう石,Sepiolite)から合成したタルク(滑石,Talc)のラインプロフィル(線形状)のフーリエ解析

Fourier analysis of the line profiles of Talc synthesized from sepiolite.

著者 (3件)： NAKAJIMA Y ,  WATANABE T ,  SUDO T
資料名： J Appl Crystallogr  (Journal of Applied Crystallography)
巻： 5  号： 4  ページ： 275-278  発行年： 1972年 
JST資料番号： D0631A  ISSN： 0021-8898  CODEN： JACGAR  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 水熱条件下(T旨300~525°C,P=500気圧)で.セピオライトより合成したタルクのラインプロフィルのフーリエ係数を計算し,Warren-Averbachの方法を用いて解釈した。α-セピオライトより合成したタルクの層面間の平均の厚さはβ-セピオライトから合成したものよりも厚かった。両タイプより合成されたタルクの平均の層面間の厚さは,合成が高温で行なわれるほど厚くなる傾向がある;写図3表3参10

シソーラス用語： Fourier解析 ,  X線回折 ,  滑石 ,  結晶構造

タイトルに関連する用語 (6件)： 海ほう石 ,  タルク ,  滑石 ,  プロフィル ,  線形 ,  フーリエ解析